Сканирующий настольный электронный микроскоп SEC SNE-4500 Plus
Лукашова М. Сканирующие электронные микроскопы находят все более широкое применение в науке и промышленности. Значительно увеличивает их возможности комплектация ионной колонной. Ионный пучок позволяет создавать микрошлифы для изучения внутренней структуры образца без необходимости его разрушения, а дополнение специальным программным обеспечением открывает возможности реализации 3D-томографии с нанометровым пространственным разрешением. В статье рассматриваются преимущества и примеры применения сканирующих электронно-ионных микроскопов, а также приведен обзор дополнительных устройств для решения специальных задач.
Сканирующий электронный микроскоп — прибор, предназначенный для получения изображения поверхности объекта с высоким пространственным разрешением. Сегодня возможности сканирующей электронной микроскопии используются практически во всех областях науки и промышленности, в таких как биология, биомедицина, геология, палентоология, физика, наноматериалы, материаловедении и др. Принцип работы сканирующего электронного микроскопа: электронный зонд электронный пучок направляется на анализируемый образец. В результате взаимодействия между электронным зондом и образцом генерируются низкоэнергетичные вторичные электроны, которые собираются детектором вторичных электронов. Интенсивность электрического сигнала детектора зависит как от природы образца в меньшей степени , так и от топографии в большей степени образца в области взаимодействия. Таким образом, сканируя электронным пучком поверхность объекта возможно получить карту рельефа проанализированной зоны.
- Принцип работы микроскопа FIB-SEM
- Сканирующий электронный микроскоп Hitachi TM предназначен для исследования морфологии и химического состава поверхности твёрдых образцов.
- Настольный растровый электронный микроскоп Jeol JCM Neoscope прибор может быть использован для:. Сканирующая растровая электронная микроскопия СЭМ, РЭМ позволяет получить изображения объёмных электронно-плотных образцов с высоким разрешением путём сканирования образцов тонко сфокусированным пучком электронов.
- JEOL может предложить широкий спектр линеек сканирующих электронных микроскопов общего назначения W-SEM , в том числе настольных, которые позволяют работать любому, не обладающему специальными знаниями и методами, до высокотехнологичных моделей сканирующих электронных микроскопов с полевой эмиссией FE-SEM. Кроме того, собственными силами разрабатываются энергодисперсионные рентгеновские спектрометры ЭДС , используемые для элементного анализа.
- Устройство сканирующего микроскопа, принцип действия
- Сканирующая электронная микроскопия является одним из наиболее широко используемых для диагностики наноматериалов и наноструктур методов. СЭМ не только предоставляет сведения о топографии поверхности, как обычные оптические микроскопы , но и обеспечивает информацией о химическом составе приповерхностной области.
- Компания Zeptools , Китай — первый крупный производитель настольных сканирующих электронных микроскопов.
- Самый универсальный и эффективный сканирующий электронный микроскоп СЭМ. Подходит для исследования наночастиц, катализаторов, порошков и наноустройств.
- Содержание
- Coxem EMAX, представляет собой настольный сканирующий электронный микроскоп SEM с высоким разрешением, который обладает возможностями и техническими характеристиками, не имеющими аналогов ни в одном другом SEM в своей ценовой категории. Сканирующий настольный электронный микроскоп — это прибор, который можно использовать для анализа формы, количественной и качественной оценки составляющих микроструктуры материалов при масштабе десятых долей нанометра.
- Основан на принципе взаимодействия электронного пучка с исследуемым объектом. Современный РЭМ позволяет работать в широком диапазоне увеличений приблизительно от 3—10 раз то есть эквивалентно увеличению сильной ручной линзы до 1 раз, что приблизительно в раз превышает предел увеличения лучших оптических микроскопов.
- Цифровой электронный микроскоп — это прибор «два-в-одном», микроскоп и цифровая камера в одном устройстве.
Вследствие этого, разрешающая способность электронного микроскопа в более чем раз может превосходить разрешение традиционного оптического микроскопа. Для получения изображения в электронном микроскопе используются специальные магнитные линзы , управляющие движением электронов в колонне прибора при помощи электромагнитного поля. Основные вехи в истории электронной микроскопии [2] :. Thomson открыл электрон.
